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电话: 0571-87951594

邮编:310027

邮箱:rrming@zju.edu.cn


     
 

型号:FEI Nova 450+Raith Elphy Quanta


存放地址:紫金港校区纳米技术研究院大楼A


服务内容:

1. 石墨烯/二维晶体电子器件的微纳米器件加工。

2. 石墨烯/二维晶体电子器 件的表征(SEM)。

3. 石墨烯/二维晶体的物性表征(SEM)。

4.  自旋-轨道耦合的拓扑量子材 料研究。

5. 物理系其他需要微纳米加工平台的课题小 组,如超导量子器件研究,纳米材料器件的研究等。


主要技术指标

    1.电子光学系统 分辨率:二次电子(SE)像 ≤ 1.0 nm @ 15k V1.4 nm @ 1kV; 加速电压: 0.2kV30KV。放大倍数误差 ≤3 % 电子枪:Schottky场发射电子枪,最大束流200nA  物镜光阑:物镜光栏能自加热自清洁;无需拆卸镜筒即可更换物镜光阑。光阑采取马达驱动 二次电子和背散射电子成像系统:自动调节和手动调节亮度、对比度

2. 样品台:五轴马达驱动 样品台移动范围:X/Y≥110mmZ≥65mm;样品台倾 斜角度:T≥-15+75°R=360°连续旋转。样品室尺寸:左右>379mm

3. 分析工作距离:5 mm

4. 数字图像记录系统 图像处理:最大61 44 x 4096像素; 图像显示:单幅图像显示或4帧图像同时显示 图像记录 : TIFF, BMPJPEG; 图像漂移补偿DCFI.

5. 配置Elec trostatic Beam BlankerKeithley Picomete r (皮安计)

6. 配置NPGS(纳米图形生成系统)9.1,能和NPGS无缝链接完成电子束曝光

7. 配置UHV腔体,有2个以上可扩展窗口,以备以后系统功 能扩展,比如做EDSFIB扩展用


功能与用途:1. 高精度电子束曝光(主要功能);

2. 电子束扫描显微镜成像功能;

3. 2018年配置X射线能量色散能谱元素定量分析和二维平面元素分析.

负责人:郑毅

Emailchengm@zju.edu.cn

备注:预约测试请联系 chengm@zju.edu.cn需提供样品信息,不接受粉末样品测试,不接受带磁性样品,详情请邮件联系。



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